ExpiradoAnúncio de concursoFornecimentoTED 94/2026

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Entidade adjudicante

Publicação (JOUE)

15 de mai. de 2026

Prazo de apresentação

14 de jun. de 2026

Valor estimado

€ 600.000

Duração do contrato

5.9 meses

Tipo de procedimento

Procedimento aberto

Sede da entidade adjudicante

Aveiro (3810-193) — PT16D

Descrição

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Códigos CPV

38511100

Lotes (1)

LOT-0000Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro
€ 600.000
385111005.9 meses

Critérios de adjudicação

Preço

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